阻抗分析仪IM7585
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型号：IM7585
品牌：日置（HIOKI）
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
一，产品概述
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，多进行16点的判定。阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。适用于判定样品是否合格的功能。阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。请注意不要拧过头。
二，设计指标
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
| 测量频率 | 1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz) |
| 测量信号电平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | 快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 |
EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 |
主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |