N8130可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。

超级电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N8130全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度。

考虑到不同规模的测试应用场景，NGI提供两种测试夹（治）具供用户选择：开尔文夹、12通道专用治具。两种测试夹（治）具均为四线制接法。

(1) N8130测试软件采用平台化设计，用户可根据工艺需求自行定制测试流程。

(2) 类Office界面风格，各通道独立显示，支持电压电流波形绘制，可以表格形式显示结果等诸多元素，使得这款专业软件在具备强大测试功能同时，兼具美观易用优点。