N5800可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为： 对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时 间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。 用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。

N5800具有丰富的直流内阻测量功能，支持业内多种主流DCIR测试方法： 多脉冲法、单脉冲法、充转放法、六步测试法、IEC测试法，可满足绝大部分用户测试需求。NGI核心测试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻测量结果。

N5800可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。

超级电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N5800全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度。

采用精密的设计电路，保证充放电过程快速，精确。充电过程中恒流充点转恒压充电无过充，能最好的保护被测产品，防止由于过程导致测试结果不准或样品损毁等情况。恒压充电转恒流无缝切换，结合1ms高速采样，完全真实还原出产品测试过程，满足用户测试QC/T741、六步法、充转放法对直流等效内阻（DCIR）的测试要求。

(1) N5800测试软件采用平台化设计，用户可根据工艺需求自行定制测试流程。

(2) 类Office界面风格，各通道独立显示，支持电压电流波形绘制，可以表格形式显示结果等诸多元素，使得这款专业软件在具备强大测试功能同时，兼具美观易用优点。

(3) 设计有功率限制电路，反应时间极短，可有效保护负载不会因为过功率而损坏。

(4) 采用全屏蔽技术，对恶劣测试环境具有广泛适应性，有效提高了负载抗干扰能力。