吉时利源测量单元 (SMU) 教程学习中心

源测量单元 (SMU) 可同时精确采集和测量电压和/或电流。

至今为止，SMU 常在 IV 检定、测试半导体及非线性设备和材料等方面的测试应用中使用。执行这些测试时，会在 SMU 的任一 4 象限工作区域中进行电压扫描和/或电流扫描（正负直流/脉冲信号源或接收器与测量）。除了要求采集和测量必须高度同步外，这些测试通常还需要高精度与高分辨率。

在需要集成独立电源、数字万用表 (DMM)、电流源和/或 电子负载的测试中使用 SMU 可以缩短设置时间、缩短软件开发时间、节省机架和工作台空间、提高吞吐量并在较大的功率选择范围内实现可靠且可重复的结果（5 ½ 和 6 ½ 位的分辨率）。

SMU 将普遍用于新技术研究、开发和制造，例如：

• 纳米级设备和材料、碳纳米管结构、石墨烯
• 有机半导体
• 印刷型电子产品
• 小尺寸低功率设备
• 高功率材料、金刚砂 (SiC)、氮化镓 (GaN) 设备、功率 MOSFET、
• 高亮度 LED、固态照明系统
• 光电子器件、激光二极管测试系统
• 电池充电与放电检定
• 电源管理 IC
• 电路保护模块
• 太阳能电池和面板
• DC-DC 转换器